何為光學(xué)影像測(cè)量?jī)x？
光學(xué)影像測(cè)量?jī)x定義為集光學(xué)、機(jī)械、電子、計(jì)算機(jī)圖像處理技術(shù)于一體的高精度、效率高、高可靠性的測(cè)量?jī)x器。由光學(xué)放大系統(tǒng)對(duì)被測(cè)物體進(jìn)行放大，經(jīng)過(guò) CCD 攝像系統(tǒng)采集影像特征并送入計(jì)算機(jī)后，可以效率高地檢測(cè)各種復(fù)雜零部件的輪廓和表面形狀尺寸、角度及位置，進(jìn)行微觀(guān)檢測(cè)與質(zhì)量控制。
在實(shí)際應(yīng)用中，盡管光學(xué)計(jì)量?jī)x器多種多樣，但它們的光學(xué)原理卻都基于四種基本原理，它們是:望遠(yuǎn)光學(xué)原理、顯微光學(xué)原理、投影光學(xué)原理、干涉光學(xué)原理?；趹?yīng)用不同的光學(xué)原理，光學(xué)計(jì)量?jī)x器可分為:自準(zhǔn)直類(lèi)光學(xué)計(jì)量?jī)x器、顯微鏡類(lèi)光學(xué)計(jì)量?jī)x器、投影類(lèi)光學(xué)計(jì)量?jī)x器、光干涉類(lèi)光學(xué)計(jì)量?jī)x器四大類(lèi)。
光電探測(cè)技術(shù)是現(xiàn)代信息獲取的主要手段之一，光電探測(cè)技術(shù)的發(fā)展是隨著其他關(guān)鍵技術(shù)的發(fā)展而發(fā)展的，由于激光技術(shù)、光波導(dǎo)技術(shù)、光電子技術(shù)、光纖技術(shù)、計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展，以及新材料、新器件、新工藝的不斷涌現(xiàn)，光電探測(cè)技術(shù)取得了巨大發(fā)展。近年來(lái)，光電探測(cè)技術(shù)引起了業(yè)內(nèi)人士的普遍關(guān)注，在軍事和民用領(lǐng)域占有越來(lái)越重要的地位。
新型光電探測(cè)技術(shù)
近年來(lái)涌現(xiàn)出的各種新型光電探測(cè)技術(shù)，包括微光探測(cè)、偏振探測(cè)、量子探測(cè)、單光子探測(cè)技術(shù)。
如何選擇合適的光學(xué)測(cè)量?jī)x
光學(xué)測(cè)量?jī)x器選擇首先要做到符合要求。例如，一臺(tái)高精度的研發(fā)級(jí)別的光譜儀，并不一定適合日常對(duì)顯示設(shè)備的校正，由于其精度高導(dǎo)致速度慢;由于光譜儀一般為非接觸式的儀器，那么對(duì)環(huán)境要求就比較高。一個(gè)正確的流程應(yīng)該是用低級(jí)的能保證測(cè)量速度和穩(wěn)定性的色度計(jì)采集數(shù)據(jù)校正，用一臺(tái)精度高符合標(biāo)準(zhǔn)的光譜儀來(lái)對(duì)色度計(jì)做一組校正數(shù)據(jù)，這樣可以保證色度計(jì)在大部分亮度校正時(shí)的準(zhǔn)確測(cè)量。
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